資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | RI線源を用いるけい光X線分析における分析感度の向上 |
| 論文題名(英語) | Investigation of Factors Leading to Improved Sensitivity in Radioisotope X-ray Fluorescence Analysis |
| 資料名 | 名古屋工業技術試験所報告 |
| 資料名(英語) | Reports of the Government Industrial Research Institute, Nagoya |
| 著者 | 古田 富彦, RHODES John R. |
| 著者(英語) | FURUTA Tomihiko, RHODES John R. |
| 巻 | 21 |
| 号 | 6 |
| 頁 | 142-151 |
| 発行年 | 1972 |
| 発行者 | 名古屋工業技術試験所 |
| 発行者(英語) | Government Industrial Research Institute, Nagoya, |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 日本語 (Japanese)、英語 (English) |
| ID | 197201473 |