資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名 | 半導体検出器とそのX線回折法への応用 |
論文題名(英語) | Semiconductor Detector and Its Applications to the X-ray Diffraction Method |
資料名 | 鉱物学雑誌 |
資料名(英語) | Journal of the Mineralogical Society of Japan |
著者 | 島津 正司, 中沢 弘基 |
著者(英語) | SHIMAZU Masaji, NAKAZAWA Hiromoto |
巻 | 11 |
号 | 6 |
頁 | 411-431 |
発行年 | 1974 |
発行者 | 日本鉱物学会 |
発行者(英語) | Mineralogical Society of Japan |
論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
DOI | 10.2465/gkk1952.11.411 |
ID | 197400863 |