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断裂系評価のための光学--電子フーリエ解析法--(村岡・長谷, 1980)

項 目 内 容
論文題名 断裂系評価のための光学--電子フーリエ解析法--
資料名 地質ニュース
著者 村岡 洋文, 長谷 紘和
著者(英語) MURAOKA Hirofumi, HASE Hirokazu
311
52-59
発行年 1980
発行者 実業公報社
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
リンク 地質調査総合センター
ID 198002294