資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名 | 丹那・浮橋断層の電気抵抗構造 |
論文題名(英語) | Electrical Resistivity Structure of the Tanna and the Ukihashi Faults |
資料名 | 東京大学地震研究所彙報 |
資料名(英語) | Bulletin of the Earthquake Research Institute, University of Tokyo |
著者 | 活断層電磁気研究グループ |
著者(英語) | Electromagnetic Research Group for the Active Fault |
巻 | 58 |
号 | 1 |
頁 | 265-286 |
発行年 | 1983 |
発行者 | 東京大学地震研究所 |
発行者(英語) | Earthquake Research Institute, University of Tokyo |
論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
アブストラクトの言語区分 | 英語 (English)、日本語 (Japanese) |
ISSN | 00408972 |
DOI | 10.15083/0000032971 |
ID | 198301813 |