資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 光学的観察方法による電子デバイス用結晶評価 |
| 論文題名(英語) | Characterization of Electron Device Crystals |
| 資料名 | 鉱物学雑誌 |
| 資料名(英語) | Journal of the Mineralogical Society of Japan |
| 著者 | 高須 新一郎 |
| 著者(英語) | TAKASU Shin'ichiro |
| 巻 | 16 |
| 号 | 2 |
| 頁 | 185-198 |
| 発行年 | 1983 |
| 発行者 | 日本鉱物学会 |
| 発行者(英語) | Mineralogical Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 04541146 |
| DOI | 10.2465/gkk1952.16.185 |
| ID | 198304054 |