資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Quantitative SIMS Analysis of Metastable Plagioclase in Boggild Intergrowth |
| 資料名(英語) | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS 4 |
| 著者(英語) | MIURA Y., TOMISAKA T. |
| 頁 | 460-462 |
| 発行年 | 1984 |
| 発行者(英語) | Springer-Verlag |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| ISBN | 3-540-13316-X |
| ID | 198402114 |