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X線マイクロアナライザーによる山陰地方のテフラの鉱物特性と二,三,の地学事例への適用(演旨)(三浦・林, 1986)

項 目 内 容
論文題名 X線マイクロアナライザーによる山陰地方のテフラの鉱物特性と二,三,の地学事例への適用(演旨)
論文題名(英語) Studies of the tephra deposits in San'in region by electron probe microanalyzer and their practical application to some geological probrems
資料名 地形
著者 三浦 清, 林 正久
7
3
205-205
発行年 1986
発行者 日本地形学連合
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ISSN 3891755
ID 198602689