資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名 | X線マイクロアナライザーによる山陰地方のテフラの鉱物特性と二,三,の地学事例への適用(演旨) |
論文題名(英語) | Studies of the tephra deposits in San'in region by electron probe microanalyzer and their practical application to some geological probrems |
資料名 | 地形 |
著者 | 三浦 清, 林 正久 |
巻 | 7 |
号 | 3 |
頁 | 205-205 |
発行年 | 1986 |
発行者 | 日本地形学連合 |
論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
ISSN | 3891755 |
ID | 198602689 |