資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名 | 反射波振幅の利用による薄層の分離 |
論文題名(英語) | Discrimination of Thin Layers using Amplitude of Refelction Waves |
資料名 | 物理探査 |
著者 | 芦田 譲, 川村 隆 |
巻 | 40 |
号 | 4 |
頁 | 243-249 |
発行年 | 1987 |
発行者 | 物理探査学会 |
論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
ISSN | 09127984 |
ID | 198700285 |