資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 二次イオン質量分析法による絶縁物の分析 |
| 論文題名(英語) | Secondary Ion Mass Spectrometry for Insulators |
| 資料名 | 日本結晶学会誌 |
| 資料名(英語) | Journal of the Crystallographic Society of Japan |
| 著者 | 圦本 尚義, 末野 重穂 |
| 著者(英語) | YURIMOTO Hisayoshi, SUENO Shigeho |
| 巻 | 29 |
| 号 | 4 |
| 頁 | 259-269 |
| 発行年 | 1987 |
| 発行者 | 日本結晶学会 |
| 発行者(英語) | Crystallographic Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 03694585 |
| DOI | 10.5940/jcrsj.29.259 |
| ID | 198706963 |