資料詳細

The Characterization of the (111) Facet Faces on the Seed Cone of (100) Silicon Single Crystals Grown by MCZ and CZ Methods by X-ray CTR Scattering (HARADA J. et al., 1990)

項 目 内 容
論文題名(英語) The Characterization of the (111) Facet Faces on the Seed Cone of (100) Silicon Single Crystals Grown by MCZ and CZ Methods by X-ray CTR Scattering
資料名(英語) Journal of Crystal Growth
著者(英語) HARADA J., SHIMURA T., TAKATA M., YAKUSHIJI K., HOSHI K.
104
4
773-779
発行年 1990
発行者(英語) North-Holland
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 00220248
DOI 10.1016/0022-0248(90)90101-P
ID 199000757