資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名(英語) | Temperature Measurement on Micro-Area of Specimen in TEM by Using Thermal Deffuse Scattering Effect |
資料名(英語) | Journal of Electron Microscopy |
著者(英語) | TAKAOKA Akio, URA Katsumi |
巻 | 39 |
号 | 1 |
頁 | 69-70 |
発行年 | 1990 |
発行者(英語) | Japanese Society of Electron Microscopy |
論文の言語区分 | 英語 (English) |
アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
ISSN | 00220744 |
ID | 199005533 |