資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Measurement of Electron Beam Diameter Fluctuated by AC Magnetic Field |
| 資料名(英語) | Journal of Electron Microscopy |
| 著者(英語) | YOSHIDA Kiyokazu, TAKAOKA Akio, URA Katsumi, FUJITA Hiroshi |
| 巻 | 39 |
| 号 | 1 |
| 頁 | 71-72 |
| 発行年 | 1990 |
| 発行者(英語) | Japanese Society of Electron Microscopy |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00220744 |
| ID | 199006808 |