資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Fluorescence x-ray absorption fine structure measurements using a synchrotron radiation x-ray microprobe |
| 資料名(英語) | Review of Scientific Instruments |
| 著者(英語) | HAYAKAWA Shinjiro, GOHSHI Yohichi, IIDA Atsuo, AOKI Sadao, SATO Kohei |
| 巻 | 62 |
| 号 | 11 |
| 頁 | 2545-2549 |
| 発行年 | 1991 |
| 発行者(英語) | Americal Institute of Physics |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00346748 |
| DOI | 10.1063/1.1142228 |
| ID | 199101066 |