資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Characterization of lateral correlation length of interface roughness in MBE grown GaAs/AlAs quantum wells by mobility measurement |
| 資料名(英語) | Journal of Crystal Growth, Molecular Beam Epitaxy 1990, Proceedings of the Sixth International Conference on Molecular Beam Epitaxy |
| 著者(英語) | NODA T., TANAKA M., SAKAKI H. |
| 巻 | 111 |
| 号 | 1-4 |
| 頁 | 348-352 |
| 発行年 | 1991 |
| 発行者(英語) | North-Holland |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00220248 |
| DOI | 10.1016/0022-0248(91)90999-L |
| ID | 199104922 |