資料詳細

マルチオフセットハイドフォンVSPによる透水性き裂の評価（木口ほか, 1992）

項 目 内 容
論文題名 マルチオフセットハイドフォンVSPによる透水性き裂の評価
資料名 断裂型貯留層探査法解析・評価（平成2-3年度）, サンシャイン計画研究開発成果中間報告書，地熱探査技術等検証調査に伴うデータの解析・評価
著者 木口 努, 伊藤 久男, 桑原 保人, 中尾 信典, 大湊 隆雄
頁 159-167
発行年 1992
発行者 地質調査所
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 199302741