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X線粉末構造解析法の現状と問題点(佐藤, 1993)

項 目 内 容
論文題名 X線粉末構造解析法の現状と問題点
論文題名(英語) Recent Development of X-Ray Crystal Structure Analysis and Some Problems in the Application to Powder Samples
資料名 粘土科学
資料名(英語) Nendo Kagaku; Journal of the Clay Science Society of Japan
著者 佐藤 満雄
著者(英語) SATO Mitsuo
32
4
259-263
発行年 1993
発行者 日本粘土学会
発行者(英語) The Clay Science Society of Japan
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 04706455
DOI 10.11362/jcssjnendokagaku1961.32.259
キーワード rietveld analysis, profile fitting analysis, synchrotron X-ray, molecular dynamics
ID 199306182