資料詳細

外部PIXE(Proton induced X-ray emission)法による大型試料の微小領域・微量元素分析の開発(1)(演旨)(末野ほか, 1996)

項 目 内 容
論文題名 外部PIXE(Proton induced X-ray emission)法による大型試料の微小領域・微量元素分析の開発(1)(演旨)
論文題名(英語) Development of external PIXE method for micro-area trace element analysis of large specimen (1) (abs.)
資料名 地球惑星科学関連学会合同大会予稿集
資料名(英語) Abstracts, Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting
著者 末野 重穂, 島 邦博, 黒沢 正紀, 古野 興平, 出口 匡
著者(英語) SUENO Shigeho, SHIMA Kunihiro, KUROSAWA Masanori, FURUNO Kouhei, DEGUCHI Yasushi
1996
254-254
発行年 1996
発行者 日本地震学会, 日本火山学会, 日本測地学会, 日本地球化学会, 日本惑星科学会, 日本岩石鉱物鉱床学会, 地球電磁気・地球惑星圏学会, 日本鉱物学会, 資源地質学会, 日本第四紀学会
発行者(英語) Seismological Society of Japan, Volcanological Society of Japan, Geodetic Society of Japan, Geochemical Society of Japan, Japan Society for Planetary Science, Japanese Association of Mineralogists, Petrologist and Economic Geologists, Society of Geomagnetism and Earth, Planetary and Space Sciences, Mineralogical Society of Japan, Society of Resource Geology, Japan Association for Quaternary Research
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ID 199609499