資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 二次イオン質量分析法によるシリコン中の軽元素の深さ方向測定--内核中の拡散係数の測定のために--（演旨） |
| 論文題名(英語) | Measurement of light element in silicon using by secondary ion mass spectrometry (abs.) |
| 資料名 | 地球惑星科学関連学会合同大会予稿集 |
| 資料名(英語) | Abstracts, Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting |
| 著者 | 湯谷 美奈, 比屋根 肇, 杉浦 直治, 浜野 洋三 |
| 著者(英語) | YUTANI M., HIYAGON H., SUGIURA N., HAMANO Y. |
| 巻 | 1996 |
| 頁 | 534-534 |
| 発行年 | 1996 |
| 発行者 | 日本地震学会, 日本火山学会, 日本測地学会, 日本地球化学会, 日本惑星科学会, 日本岩石鉱物鉱床学会, 地球電磁気.地球惑星圏学会, 日本鉱物学会, 資源地質学会, 日本第四紀学会 |
| 発行者(英語) | Seismological Society of Japan, Volcanological Society of Japan, Geodetic Society of Japan, Geochemical Society of Japan, Japan Society for Planetary Science, Japanese Association of Mineralogists, Petrologist and Economic Geologists, Society of Geomagnetism and Earth, Planetary and Space Sciences, Mineralogical Society of Japan, Society of Resource Geology, Japan Association for Quaternary Research |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ID | 199612521 |