資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 二次イオン質量分析法 |
| 論文題名(英語) | Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) |
| 資料名 | 地球科学 |
| 資料名(英語) | Earth Science (Chikyu Kagaku) |
| 著者 | 森下 祐一 |
| 著者(英語) | MORISHITA Yuichi |
| 巻 | 51 |
| 号 | 5 |
| 頁 | 382-383 |
| 発行年 | 1997 |
| 発行者 | 地学団体研究会 |
| 発行者(英語) | Association for the Geological Collaboration in Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ISSN | 03666611 |
| DOI | 10.15080/agcjchikyukagaku.51.5_382 |
| ID | 199705097 |