資料詳細

Analysis of Fine Structure of Chert and BIF by Measurement of High Resolution Magnetic Field and Scanning X-Ray Analyzed Microscope (SAKAI Hideo et al., 1997)

項 目 内 容
論文題名(英語) Analysis of Fine Structure of Chert and BIF by Measurement of High Resolution Magnetic Field and Scanning X-Ray Analyzed Microscope
資料名(英語) Proceedings of the NIPR Symposium on Antarctic Geosciences
著者(英語) SAKAI Hideo, SHIRAI Kotaro, TAKANO Masao, HORII Masae, FUNAKI Minoru
10
59-67
発行年 1997
発行者(英語) National Institute of Polar Research
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 09142029
ID 199707052