資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | X線回折法による極微試料の精密分析（演旨） |
| 論文題名(英語) | Determination of the lattice constant of silicon by the extrapolation method (abs.) |
| 資料名 | 日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会，日本鉱物学会年会講演要旨集 |
| 著者 | 中牟田 義博 |
| 著者(英語) | NAKAMUTA Y. |
| 巻 | 1998 |
| 頁 | 7-8 |
| 発行年 | 1998 |
| 発行者 | 日本岩石鉱物鉱床学会, 日本鉱物学会 |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ID | 199806402 |