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Determination of trace impurities in high-purity aluminium oxide by high resolution inductively coupled plasma mass spectrometry (NAKANE Kiyoshi et al., 1998)

項 目 内 容
論文題名(英語) Determination of trace impurities in high-purity aluminium oxide by high resolution inductively coupled plasma mass spectrometry
資料名(英語) Analytica Chimica Acta
著者(英語) NAKANE Kiyoshi, UWAMINO Yoshinori, MORIKAWA Hisashi, TSUGE Akira, ISHIZUKA Toshio
369
1-2
79-85
発行年 1998
発行者(英語) Elsevier Science B.V.
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 00032670
DOI 10.1016/S0003-2670(98)00240-2
ID 199806405