資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 軸方向測光-半導体光検出器型ICP-AESによる炭酸塩岩石標準試料中主・微量成分の分析（ポスターセッション）（演旨） |
| 論文題名(英語) | Determination of major and minor components in carbonate rock reference samples by axial plasma-solid state photo detector ICP-AES (poster session) (abs.) |
| 資料名 | 日本地球化学会年会講演要旨集 |
| 資料名(英語) | Annual Meeting of the Geochemical Society of Japan |
| 著者 | 岡井 貴司, 今井 登 |
| 著者(英語) | OKAI T., IMAI N. |
| 巻 | 1998 |
| 頁 | 220-220 |
| 発行年 | 1998 |
| 発行者 | 日本地球化学会 |
| 発行者(英語) | Geochemical Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ID | 199807196 |