資料詳細

走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成(演旨)(戸上ほか, 1998)

項 目 内 容
論文題名 走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成(演旨)
論文題名(英語) Image analysis of chemical maps obtained by the Scanning X-ray Analytical Microscope: Transformation to mineral maps (abs.)
資料名 地球惑星科学関連学会合同大会予稿集
資料名(英語) Abstracts, Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting
著者 戸上 昭司, 高野 雅夫, 道林 克禎, 村上 雅美, 熊沢 峰夫
著者(英語) TOGAMI Shoji, TAKANO Masami, Michibayashi Katsuyoshi, MURAKAMI Masami, KUMAZAWA Mineo
1998
251-251
発行年 1998
発行者 日本地震学会, 日本火山学会, 日本測地学会, 日本地球化学会, 日本惑星科学会
発行者(英語) Seismological Society of Japan / Volcanological Society of Japan / Geodetic Society of Japan / Geochemical Society of Japan / Japanese Society for Planetary Science
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 199810016