資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Trace analysis of high-purity copper by total reflection X-ray fluorescence spectrometry |
| 資料名(英語) | Fresenius' Journal of Analytical Chemistry |
| 著者(英語) | YAMAGUCHI Hitoshi, ITOH Sinji, IGARASHI Shukuro, NAITOH Kunishige, HASEGAWA Ryosuke |
| 巻 | 362 |
| 号 | 4 |
| 頁 | 395-398 |
| 発行年 | 1998 |
| 発行者(英語) | Springer-Verlag |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 09370633 |
| ID | 199811061 |