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IVb族ルチル構造（γ-SiO2，GeO2，SnO2）の精密構造解析と分子軌道計算による原子間化学結合性の比較（演旨）（山中ほか, 1998）

項 目 内 容
論文題名 IVb族ルチル構造（γ-SiO2，GeO2，SnO2）の精密構造解析と分子軌道計算による原子間化学結合性の比較（演旨）
資料名 日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会，日本鉱物学会年会講演要旨集
著者 山中 高光, 倉島 玲伊, 土屋 卓久, 三牧 旬
巻 1998
頁 25-25
発行年 1998
発行者 日本岩石鉱物鉱床学会, 日本鉱物学会
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 199811235