資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 改良イオンビーム・スパッタ法による高分解能走査電子顕微鏡（HRSEM）観察のための試料作成 |
| 論文題名(英語) | Sample Preparation for Observation with High Resolution Scanning Electron Microscope (HRSEM) by Ion-beam Sputter Coating |
| 資料名 | 鉱物学雑誌 |
| 資料名(英語) | Journal of the Mineralogical Society of Japan |
| 著者 | 滝沢 茂, 大野 良樹 |
| 著者(英語) | TAKIZAWA Shigeru, OHNO Yoshiki |
| 巻 | 28 |
| 号 | 2 |
| 頁 | 65-69 |
| 発行年 | 1999 |
| 発行者 | 日本鉱物学会 |
| 発行者(英語) | Mineralogical Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 04541146 |
| DOI | 10.2465/gkk1952.28.65 |
| ID | 199902828 |