資料詳細

走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成(戸上ほか, 1998)

項 目 内 容
論文題名 走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成
論文題名(英語) Image Analysis of Elemental X-ray Maps Obtained by the Scanning X-ray Analytical Microscope: Transformation from X-ray Maps to Mineral Maps
資料名 鉱物学雑誌
資料名(英語) Journal of the Mineralogical Society of Japan
著者 戸上 昭司, 高野 雅夫, 道林 克禎, 村上 雅美, 熊沢 峰夫
著者(英語) TOGAMI Shoji, TAKANO Masao, MICHIBAYASHI Katsuyoshi, MURAKAMI Masami, KUMAZAWA Mineo
27
4
203-212
発行年 1998
発行者 日本鉱物学会
発行者(英語) Mineralogical Society of Japan
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 04541146
DOI 10.2465/gkk1952.27.203
ID 199903440