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多結晶体組織解析用X線分析顕微鏡の開発と応用--3.結晶方位マッピング--(演旨)(下林・北村, 1999)
項 目
内 容
論文題名
多結晶体組織解析用X線分析顕微鏡の開発と応用--3.結晶方位マッピング--(演旨)
資料名
日本鉱物学会年会,日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集
著者
下林 典正, 北村 雅夫
巻
1999
頁
63-63
発行年
1999
発行者
日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会
論文の言語区分
日本語 (Japanese)
ID
199911963