資料詳細

微小領域分析が拓く地球科学（森下, 2000）

項 目 内 容
論文題名 微小領域分析が拓く地球科学
資料名 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301
著者 森下 祐一
巻 16
頁 1-6
発行年 2000
発行者 日本産業技術振興協会
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 200006845