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微小領域における硫黄.シリコン同位体比の精密測定（森下ほか, 2000）

項 目 内 容
論文題名 微小領域における硫黄.シリコン同位体比の精密測定
資料名 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301
著者 森下 祐一, 佐々木 昭, 木多 紀子, 富樫 茂子, 佐藤 久夫
巻 16
頁 17-24
発行年 2000
発行者 日本産業技術振興協会
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 200006847