資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 岩石中のジルコン1粒から解明する岩石の生い立ち--SIMSを用いたジルコンのU-Pb年代測定とその意義-- |
| 資料名 | 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301 |
| 著者 | 小笠原 正継, 木多 紀子, 森下 祐一, 富樫 茂子 |
| 巻 | 16 |
| 頁 | 25-29 |
| 発行年 | 2000 |
| 発行者 | 日本産業技術振興協会 |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ID | 200006848 |