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SIMSで探る原始太陽系（木多ほか, 2000）

項 目 内 容
論文題名 SIMSで探る原始太陽系
資料名 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301
著者 木多 紀子, MOSTEFAOUI Smail, 永原 裕子, 橘 省吾, 富樫 茂子, 森下 祐一
巻 16
頁 35-41
発行年 2000
発行者 日本産業技術振興協会
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 200006850