資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名 | サンゴの微小領域分析による環境変動解析の試み |
資料名 | 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301 |
著者 | 岡井 貴司, 鈴木 淳, 木多 紀子, 富樫 茂子, 森下 祐一 |
巻 | 16 |
頁 | 62-68 |
発行年 | 2000 |
発行者 | 日本産業技術振興協会 |
論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
ID | 200006854 |