資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | X-ray diffraction study of bond character of rutile-type SiO2, GeO2 and SnO2 |
| 資料名(英語) | Zeitschrift fur Kristallographie |
| 著者(英語) | YAMANAKA T., KURASHIMA R., MIMAKI J. |
| 巻 | 215 |
| 号 | 7 |
| 頁 | 424-428 |
| 発行年 | 2000 |
| 発行者(英語) | Oldenbourg Verlag |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00442968 |
| DOI | 10.1524/zkri.2000.215.7.424 |
| ID | 200007722 |