資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Refractive index and degree of inhomogeneity of nanocrystalline TiO2 thin films: Effects of substrate and annealing temperature |
| 資料名(英語) | Journal of Applied Physics |
| 著者(英語) | MOSADDEQ-RAHMAN Md., YU Guolin, SOGA Tetsuo, JIMBO Takashi, EBISU Hiroshi, UMENO Masayoshi |
| 巻 | 88 |
| 号 | 8 |
| 頁 | 4634-4641 |
| 発行年 | 2000 |
| 発行者(英語) | American Institute of Physics |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00218979 |
| ID | 200008870 |