資料詳細

High mass resolution ion microprobe analysis of rare earth elements in silicate glass, apatite and zircon: lack of matrix dependency (SANO Yuji et al., 2002)

項 目 内 容
論文題名(英語) High mass resolution ion microprobe analysis of rare earth elements in silicate glass, apatite and zircon: lack of matrix dependency
資料名(英語) Chemical Geology
著者(英語) SANO Yuji, TERADA Kantaro, FUKUOKA Takaaki
184
3-4
217-230
発行年 2002
発行者(英語) Elsevier Science B.V.
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 00092541
DOI 10.1016/S0009-2541(01)00366-7
ID 200201357