資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | AFM and SEM observation on mechanism of fatigue crack growth in an Fe-Si single crystal |
| 資料名(英語) | International Journal of Fracture |
| 著者(英語) | ODA Y., FURUYA Y., NOGUCHI H., HIGASHIDA K. |
| 巻 | 113 |
| 号 | 3 |
| 頁 | 213-231 |
| 発行年 | 2002 |
| 発行者(英語) | Kluwer Academic Publishers |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 03769429 |
| DOI | 10.1023/A:1014211617958 |
| ID | 200202336 |