資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Post-stishovite phase boundary in SiO2 determined by in situ X-ray observations |
| 資料名(英語) | Earth and Planetary Science Letters |
| 著者(英語) | ONO Shigeaki, HIROSE Kei, MURAKAMI Motohiko, ISSHIKI Maiko |
| 巻 | 197 |
| 号 | 3-4 |
| 頁 | 187-192 |
| 発行年 | 2002 |
| 発行者(英語) | Elsevier Science B.V. |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 0012821X |
| DOI | 10.1016/S0012-821X(02)00479-X |
| ID | 200203871 |