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SIMS(二次イオン質量分析法)によるSi同位体比測定法の開発及びCAIsへの応用(C009-P001)(ポスターセッション)(演旨)(水野ほか, 2002)

項 目 内 容
論文題名 SIMS(二次イオン質量分析法)によるSi同位体比測定法の開発及びCAIsへの応用(C009-P001)(ポスターセッション)(演旨)
論文題名(英語) Development of a new method for the measurment of Si-isotopic compositions with SIMS and Application to CAIs (C009-P001) (poster session) (abs.)
資料名 地球惑星科学関連学会合同大会予稿集(CD-ROM)
資料名(英語) Abstracts, 2002 Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting (CD-ROM)
著者 水野 珠美, 杉浦 直治, 比屋根 肇, 牛久保 孝行
著者(英語) MIZUNO Tamami, SUGIURA Naoji, HIYAGON Hajime, USHIKUBO Takayuki
2002
C009-P001
発行年 2002
発行者 日本海洋学会, 日本火山学会, 日本岩石鉱物鉱床学会, 日本気象学会, 日本鉱物学会, 他
発行者(英語) Oceanographic Society of Japan! Volcanological Society of Japan! Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists! Meteorological Society of Japan! Mineralogical Society of Japan! et al.
論文の言語区分 日本語 (Japanese)、英語 (English)
ID 200206458