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電子線マイクロプローブによる石英中のAl分析のためのシリカガラス標準試料(ポスターセッション)(演旨)(三好ほか, 2002)

項 目 内 容
論文題名 電子線マイクロプローブによる石英中のAl分析のためのシリカガラス標準試料(ポスターセッション)(演旨)
論文題名(英語) Synthetic silica glass for trace aluminum analysis in quartz by electron microprobe (poster session) (abs.)
資料名 日本鉱物学会年会,日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集
著者 三好 直哉, 佐藤 久夫, 山口 佳昭, 益田 晴恵
著者(英語) MIYOSHI Naoya, SATO Hisao, YAMAGUCHI Yoshiaki, MASUDA Harue
2002
78-78
発行年 2002
発行者 日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
DOI 10.14824/kobutsu.2002.0.78.0
ID 200208922