資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | ガラスビードを用いた蛍光X線分析装置による珪酸塩岩石の主・微量成分分析--3倍・6倍・11倍希釈ガラスビード法の分析精度の評価-- |
| 論文題名(英語) | Major and Trace Components Analysis of Silicate Rocks by X-ray Fluorescence Spectrometer Using Fused Glass Beads: Evaluation of Analytical Precision of Three, Six, Eleven Times Dilution Fused Glass Beads Methods |
| 資料名 | 東京大学地震研究所技術研究報告 |
| 資料名(英語) | Technical Research Report, Earthquake Research Institute, University of Tokyo |
| 著者 | 谷 健一郎, 折橋 裕二, 中田 節也 |
| 著者(英語) | TANI Kenichiro, ORIHASHI Yuji, NAKADA Setsuya |
| 号 | 8 |
| 頁 | 26-36 |
| 発行年 | 2002 |
| 発行者 | 東京大学地震研究所 |
| 発行者(英語) | Earthquake Research Institute, University of Tokyo |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 13426486 |
| リンク | 東京大学学術機関リポジトリ |
| ID | 200304516 |