資料詳細

X線粉末回折で結晶構造解析ができるRietveld法--合成紅簾石の結晶構造解析を例にして--(演旨)(永嶌・赤坂, 2003)

項 目 内 容
論文題名 X線粉末回折で結晶構造解析ができるRietveld法--合成紅簾石の結晶構造解析を例にして--(演旨)
資料名 地学団体研究会総会プログラム・講演要旨
資料名(英語) Program and Abstracts, Annual Meeting of the Association for Geological Collaboration in Japan
著者 永嶌 真理子, 赤坂 正秀
57
131-132
発行年 2003
発行者 地学団体研究会
発行者(英語) Association for Geological Collaboration in Japan
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 200305805