資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 岩石の蛍光Ｘ線法による定量分析--Siの二次Ｘ線効果--（演旨） |
| 資料名 | 日本地質学会第91年学術大会講演要旨 |
| 著者 | 柳 哮, 中田 節也, 前田 俊一, 方 大赫, 山口 勝 |
| 巻 | 91 |
| 頁 | 382-382 |
| 発行年 | 1984 |
| 発行者 | 日本地質学会 |
| 発行者(英語) | Geological Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| DOI | 10.14863/geosocabst.1984.0_382 |
| ID | 200307599 |
資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 岩石の蛍光Ｘ線法による定量分析--Siの二次Ｘ線効果--（演旨） |
| 資料名 | 日本地質学会第91年学術大会講演要旨 |
| 著者 | 柳 哮, 中田 節也, 前田 俊一, 方 大赫, 山口 勝 |
| 巻 | 91 |
| 頁 | 382-382 |
| 発行年 | 1984 |
| 発行者 | 日本地質学会 |
| 発行者(英語) | Geological Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| DOI | 10.14863/geosocabst.1984.0_382 |
| ID | 200307599 |