資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | High-Resolution Rapid Elemental Analysis Using an XRF Microscanner |
| 資料名(英語) | Journal of Sedimentary Research |
| 著者(英語) | KOSHIKAWA Toshitada, KIDO Yoshiki, TADA Ryuji |
| 巻 | 73 |
| 号 | 5 |
| 頁 | 824-829 |
| 発行年 | 2003 |
| 発行者(英語) | Society for Sedimentary Geology |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 15271404 |
| DOI | 10.1306/020503730824 |
| ID | 200315454 |