資料詳細

Polytype distribution of circumstellar silicon carbide: Microstructural characterization by transmission electron microscopy (DAULTON T.L. et al., 2003)

項 目 内 容
論文題名(英語) Polytype distribution of circumstellar silicon carbide: Microstructural characterization by transmission electron microscopy
資料名(英語) Geochimica et Cosmochimica Acta
著者(英語) DAULTON T.L., BERNATOWICZ T.J., LEWIS R.S., MESSENGER S., STADERMANN F.J., AMARI S.
67
24
4743-4767
発行年 2003
発行者(英語) Elsevier Ltd
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 00167037
DOI 10.1016/S0016-7037(03)00272-2
ID 200410009