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集束イオンビームによるレーザー加熱ダイヤモンドアンビルセル回収試料の加工と透過型電子顕微鏡観察(演旨)(入舩ほか, 2004)

項 目 内 容
論文題名 集束イオンビームによるレーザー加熱ダイヤモンドアンビルセル回収試料の加工と透過型電子顕微鏡観察(演旨)
論文題名(英語) Focused Ion Beam (FIB) processing of samples from Laser-heated DAC experiments for TEM Observations (abs.)
資料名 日本鉱物学会,日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集
著者 入舩 徹男, 一色 麻衣子, 阪本 志津枝
著者(英語) IRIFUNE Tetsuo, ISSHIKI Maiko, SAKAMOTO Shizue
2004
26-26
発行年 2004
発行者 日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ISSN 13486543
ID 200412450