資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | X線光電子顕微鏡法による岩石試料中のSiの化学結合状態イメージング（演旨） |
| 論文題名(英語) | X-Ray Photoelectron Microscopic Imaging of the Chemical Bonding State of Si in a Rock Sample (abs.) |
| 資料名 | 日本鉱物学会，日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集 |
| 著者 | 瀬山 春彦, 王 道元, 相馬 光之 |
| 著者(英語) | SEYAMA H., WANG D., SOMA M. |
| 巻 | 2004 |
| 頁 | 38-38 |
| 発行年 | 2004 |
| 発行者 | 日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会 |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ISSN | 13486543 |
| ID | 200412461 |