資料詳細

A critical evaluation of pressure scales at high temperatures by in situ X-ray diffraction measurements (FEI Yingwei et al., 2004)

項 目 内 容
論文題名(英語) A critical evaluation of pressure scales at high temperatures by in situ X-ray diffraction measurements
資料名(英語) Physics of the Earth and Planetary Interiors
著者(英語) FEI Yingwei, LI Jie, HIROSE Kei, MINARIK William, ORMAN James Van, SANLOUP Chrystele, WESTRENEN Willem van, KOMABAYASHI Tetsuya, FUNAKOSHI Ken-ichi
143/144
515-526
発行年 2004
発行者(英語) Elsevier B.V.
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 319201
DOI 10.1016/j.pepi.2003.09.018
ID 200424197