資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | TOF-SIMS Analysis of SiC Grains with High Lateral Resolution(abs.) |
| 資料名(英語) | Lunar and Planetary Science 28, Abstracts of papers submitted to the Twenty-Eighth Lunar and Planetary Science Conference |
| 著者(英語) | STEPHAN T., ROST D., JESSBERGER E.K., BUDELL R., GRESHAKE A., ZINNER E.K., AMARI S., LEWIS R.S. |
| 号 | 3 |
| 頁 | 1371-1372 |
| 発行年 | 1997 |
| 発行者(英語) | Lunar and Planetary Institute |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| ID | 200527838 |